电子元器件周期检验是在规定的周期内，从逐批检验合格的某个批或若干批中抽取样本，并施加各种应力的各项试验，然后检测产品判断其是否符合规定要求的一种检验。其主要内容包括： 周期规定、检验分组和样品；检验项目和程序；周期检验缺陷分类和失效判据；周期检验结果判定和处置。 周期规定、检验分组和样品 （1）检验周期规定：根据产品的特性及生产过程质量稳定的情况，再综合考虑其他的因素，适当地规定检验周期。产品标准中一般都给出了该产品在正常稳定生产情况下进行周期检验的时间间隔（如三个月，六个月，一年等），但对不同的检验组，规定不同的检验周期。 （2）检验分组与样品：电子元器件周期检 验分为C组和D组，C组为环境试验，D组为耐久性寿命试验。周期检验的样品，应根据产品标准中规定的抽样方案和检查水平及规定的样品数，从本周期内经逐批检验合格的一个批或几个批中随机抽取，加倍或二次试验的样品在抽样时一次取足。keyencems2-h50Timeingbelt6TMN-I15Mat840-0687344P/nOMRONGLS-S1VextaKXSD200-ALZAMOIntraLaseIncArtworkJ7325