厦门阿米控技术有限公司

DC3N-12D-00-010-AI

发布时间:2023-07-05

XR20-W回转轴校准装置与雷尼绍XL-80激光干涉仪相结合,可使回转轴位置性能测量精度达到±1角秒。借助新的“摆动轴转台”测量能力,用户现在可利用XR20-W测量更多种类的机床,一方面将带来更好的投资回报,另一方面也将提升用户的产品及服务品质。  摆动轴转台测量的原理是:通过回转轴和线性轴同步运动,使XL-80的激光测量光束在整个测试中保持准直。因为在测量过程中线性轴处于运动状态,所以XR20-W获得的测量值可能会包含来自线性轴的额外角度误差(例如,俯仰)。分别测量这些角度误差(使用XL-80激光和角度光学镜),并将这些误差从初始回转轴测量结果中移除。**终获得的一组数据只反映回转轴本身的误差。  摆动轴转台测量软件作为XR20-W的一个单独收费的选项提供,包括一套软件实用工具、零件程序生成器和电子版手册。手册详细说明了安装设定和相关定制硬件生产的所有要求。设定简单、快捷。执行测试时,用户使用磁力座将随附的标定球快速定位在机床加工区域内,然后利用随附的自定义宏程序软件,为触发式测头编程,以在标定球周围自动执行基准测量。  测试的测量结果将输出到计算机并生成Microsoft Exce

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